
Für die Charakterisierung von Materialien der Hochfrequenztechnik bieten wir:
- Bestimmung der frequenzabhängigen, dielektrischen Eigenschaften (Permittivität, Verlustfaktor) für feste und flüssige Stoffe (bis 100 GHz)
- Bestimmung der elektrischen Leitfähigkeit von Leiterplatten-Endoberflächen
- Entwicklung spezifischer Messmethoden nach Kundenwunsch